Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej - str. 2 - INFORMATYKA - PAMIĘĆ WIRTUALNA - TESTOWANIE - SAODC - PAMIĘĆ RAM
Mouser Electronics Poland   Przedstawicielstwo Handlowe Paweł Rutkowski   Amper.pl sp. z o.o.  

Energetyka, Automatyka przemysłowa, Elektrotechnika

Dodaj firmę Ogłoszenia Poleć znajomemu Dodaj artykuł Newsletter RSS
strona główna ARTYKUŁY Informatyka Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej
drukuj stronę
poleć znajomemu

Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej

SAODC w testowaniu transparentnym

Kluczową rolę w technikach testowania pamięci odgrywają testy krokowe (testy typu March) określane również w literaturze polskiej jako testy maszerujące [14]. Test typu March składa się ze skończonej liczby elementów typu March. Element typu March (faza testu) składa się ze skończonej liczby operacji, z których wszystkie oddziałują na określoną komórkę przed przejściem do następnej komórki pamięci. Komórka następna określona jest poprzez sposób adresowania, który może być wzrastający, w którym adresy wzrastają od 0 do N-1, oznaczany przez ⇑, lub malejący, w którym adresy maleją od N-1 do 0, oznaczany przez ⇓.W niektórych przypadkach sposób adresowania można wybrać dowolnie i jest to oznaczane przez symbol . Możliwe operacje dostępne na komórkach pamięci dostępne w testach krokowych to: wx – zapisz do komórki pamięci wartość x i operacja rx – odczytaj wartość z komórki pamięci (wartość spodziewana jest równa x). Cały test typu March ograniczony jest poprzez parę nawiasów klamrowych {...}, podczas gdy faza testu krokowego ograniczona jest parą nawiasów okrągłych (...). Jako przykład rozpatrzymy test MATS+ [8]:

symbol (w0); ⇑(r0, w1); ⇓(r1,w0)}.

M0 M1 M2

Test ten składa się z trzech faz: M0, M1, M2. Faza M0 zeruje pamięć.

Faza M1 w porządku adresów rosnących czyta wartość 0 z komórki, następnie zapisuje tam wartość 1. Faza M2 w porządku adresów malejących odczytuje wartość 1 z komórki, po czym do tej samej komórki wpisuje wartość 0. W tradycyjnych testach krokowych na uszkodzenie pamięci wskazuje fakt odczytania innej wartości niż wartość spodziewana.

Możliwość wystąpienia uszkodzenia w trakcie eksploatacji układu pamięci wymaga cyklicznego sprawdzania jakości jej działania bez niszczenia przechowywanej tam zawartości. Można to osiągnąć używając transparentnej metody testowania. Zgodnie z procedurą, zaproponowaną przez M. Nicloaidis’a [9], każdy tradycyjny test krokowy można przekształcić do postaci transparentnej. Procedura transformacji sprowadza się do następujących kroków:

1. Pominąć w teście fazę inicjacyjną nie mającą wpływu na jakość testu. Jej zadaniem jest jedynie wstępne wypełnienie pamięci określonymi wartościami (zazwyczaj wartością 0).

2. Wszystkie statyczne polecenia odczytu (r 0, r 1) i zapisu (w 0, w 1) zastąpić poleceniami uogólnionymi w postaci ra, ra*, wa, wa*. Uogólnione polecenia ra (ra*) oznaczają odczytanie z pamięci wartości a (a*) oraz przekazanie ich do analizatora sygnatury.

3. W każdej fazie testu, w której przyjęty jest dowolny sposób adresowania, przyjąć jeden z określonych sposobów adresowania (np. w danej fazie symbol  symbol , oznaczający dowolny sposób adresowania, zastąpić symbolem ⇑ lub ⇓, jednoznacznie opisującym sposób adresowania pamięci).

Po tych trzech krokach otrzymana zostanie bazowa transparentna wersja testu poddanego transformacji. W celu pełnej realizacji testu niezbędne jest wyznaczenie algorytmu pozwalającego określić sygnaturę odniesienia. Sposób otrzymania tej sygnatury opisany jest w czwartym kroku przekształceń.

4. Z otrzymanego w trzecim kroku testu usunąć wszystkie polecenia zapisu. Polecenia odczytu 
(ra i ra*) zaimplementować tak, aby po poleceniu ra do rejestru sygnatury skierowana została odczytana wartość, zaś po poleceniu ra* wartość przeciwna do wartości odczytanej.

W tym wypadku rezultat testu jest wynikiem porównania wartości sygnatury odniesienia (sygnatury pamięci z momentu poprzedzającego rozpoczęcie testu) z wartością sygnatury pamięci wyliczonej po zakończeniu testu (lub wyliczanej w trakcie jego trwania). Zatem w wypadku tradycyjnej postaci testowania transparentnego zaproponowanej w [9], transponowany test jest rozszerzany o fazę wyznaczenia sygnatury odniesienia Stest. Zwiększa to o około 50% czas realizacji testu. Przy wciąż zwiększających się rozmiarach pamięci jest to stosunkowo ważna kwestia.

Podczas realizacji testu krokowego można wyróżnić dwie podstawowe zawartości pamięci RAM: oryginalną D = d1d2d3...dN-1 (zawartość pamięci z momentu bezpośrednio poprzedzającego rozpoczęcie testu) oraz zawartość komplementarną w stosunku do zawartości oryginalnej D* = d1 *d2 *d3*...dN-1* składającą się z zanegowanych wartości oryginalnych. Przykładowo, rozważając test March C-: {⇑(rd,wd*);⇑(rd*,wd);⇓(rd,wd*) ⇓(rd*,wd)⇑(rd)}, podczas pierwszej, trzeciej i piątej fazy odczytywane są z pamięci wartości oryginalne D = d1d2d3...dN-1, zaś w fazie drugiej i czwartej z pamięci odczytywane są wartości zanegowane D*=d1*d2*d3*...dN-1*. W wypadku zastosowania techniki SAODC powyższe spostrzeżenie oraz równanie (2) pozwalają zmniejszyć złożoność wyliczania sygnatury odniesienia i zredukować ją do pojedynczej instrukcji. W tym celu w procedurze konwersji testu krokowego na postać transparentną należy pominąć p. 4 i zmodyfikować p. 1 na postać: „Zamienić fazę inicjacyjną transponowanego testu  symbol (w0) na uogólnioną instrukcję odczytu symbol(ra) mającą za zadanie wyznaczenie charakterystyki odniesienia SR zgodnie z (1)”. Zastosowanie tej procedury do testu MATS+ prowadzi do następującej postaci transparentnej testu: { symbol (ra);⇑(ra,wa*);⇓(ra*,wa)}. Za wyznaczenie sygnatury odniesienia odpowiedzialna jest w tym wypadku pierwsza faza testu. Należy również podkreślić, że faza wyznaczania sygnatury odniesienia ma tutaj charakter uniwersalny i jest identyczna dla każdego standardowego testu krokowego. Porównanie złożoności transparentnych wersji wybranych testów krokowych realizowanych techniką tradycyjną i techniką SAODC zawiera tab. 1.

Tab.1. Porównanie złożoności techniki tradycyjnej i techniki SAODC:

TestWersja bazowaTechnika tradycyjnaTechnika SADOC
SygnaturaRazemSygnaturaRazem
MATS 3N 2N5N1N4N
MATS+ 4N2N6N1N5N
MATS++ 5N

3N

8N1N6N

March X 

5N3N8N1N6N
March Y 7N5N12N1N8N
March A 14N4N18N1N15N
March B16N6N22N1N17N
March C 10N6N16N1N11N
March C- 9N5N14N1N10N

Przedstawione wyniki dość wyraźnie pokazują zmniejszenie złożoności testów transparentnych realizowanych z użyciem techniki SAODC w stosunku do testów realizowanych techniką tradycyjną.

follow us in feedly
Średnia ocena:
 
REKLAMA

Otrzymuj wiadomości z rynku elektrotechniki i informacje o nowościach produktowych bezpośrednio na swój adres e-mail.

Zapisz się
Administratorem danych osobowych jest Media Pakiet Sp. z o.o. z siedzibą w Białymstoku, adres: 15-617 Białystok ul. Nowosielska 50, @: biuro@elektroonline.pl. W Polityce Prywatności Administrator informuje o celu, okresie i podstawach prawnych przetwarzania danych osobowych, a także o prawach jakie przysługują osobom, których przetwarzane dane osobowe dotyczą, podmiotom którym Administrator może powierzyć do przetwarzania dane osobowe, oraz o zasadach zautomatyzowanego przetwarzania danych osobowych.
Komentarze (0)
Dodaj komentarz:  
Twój pseudonim: Zaloguj
Twój komentarz:
dodaj komentarz
Elektronika - Konstrukcje, Technologie, Zastosowania
Elektronika - Konstrukcje, Technologie, Zastosowania
ul. Chmielna 6 m. 6, Warszawa
tel.  (+48 22) 827 38 79
$nbsp;
REKLAMA
Nasze serwisy:
elektrykapradnietyka.com
przegladelektryczny.pl
rynekelektroniki.pl
automatykairobotyka.pl
budowainfo.pl