|
|
data dodania:
03 grudzień 2009
Średnia ocena:
Autor:
Stephen Boyd
Uczelnia:
Stanford
Tagi:
Wrażliwość równań liniowych na błędy danych
Komentarze (0)
| REKLAMA |
|
|
 |
Promieniowanie w środowisku - groźne czy ...
autor:
dr Paweł Krajewski, Centralne Laboratorium Ochrony Radiologicznej
kurs: XII Festiwal Nauki w Warszawie
kurs: XII Festiwal Nauki w Warszawie
 |
Wielostronna złożoność
autor:
Hari Balakrishnan
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Inżynieria systemów komputerowych
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Inżynieria systemów komputerowych
 |
Rurowe przetworniki analogowo-cyfrowe
autor:
Haideh Khorramabadi
uczelnia: Berkeley
kurs: Analiza i projektowanie analogowo-cyfrowego ...
uczelnia: Berkeley
kurs: Analiza i projektowanie analogowo-cyfrowego ...
 |
Prawa Ampera, Elektromagnesy
autor:
Walter Lewin
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
| REKLAMA |
|
|
 |
Zmiana pędu, impuls, rakiety
autor:
Walter Lewin
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka I: Mechanika klasyczna
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka I: Mechanika klasyczna
 |
Metoda Superpozycji, Thevenina, Nortona
autor:
Anant Agarwal
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Inżynieria elektryczna
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Inżynieria elektryczna
 |
Indukcja magnetyczna , Cyklotron, Synchrotron i ...
autor:
Walter Lewin
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
 |
Baterie, przekształcanie energii, prawa Kirchoffa
autor:
Walter Lewin
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
| REKLAMA |
|
|
Nasze serwisy:
