|
|
data dodania:
03 grudzień 2009
Średnia ocena:
Autor:
Stephen Boyd
Uczelnia:
Stanford
Tagi:
Wrażliwość równań liniowych na błędy danych
Komentarze (2)
| REKLAMA |
|
|
 |
Stany logiczne i pamięć
autor:
Anant Agarwal
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Inżynieria elektryczna
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Inżynieria elektryczna
 |
Porażenie prądem elektrycznym, Stymulatory ...
autor:
Walter Lewin
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
 |
 |
Budowa dynamicznych stron WWW: SQL
autor:
David J. Malan
uczelnia: Harvard
kurs: Budowanie dynamicznych stron internetowych
uczelnia: Harvard
kurs: Budowanie dynamicznych stron internetowych
| REKLAMA |
|
|
 |
Zmiana pędu, impuls, rakiety
autor:
Walter Lewin
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka I: Mechanika klasyczna
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka I: Mechanika klasyczna
 |
Metoda Superpozycji, Thevenina, Nortona
autor:
Anant Agarwal
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Inżynieria elektryczna
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Inżynieria elektryczna
 |
Baterie, przekształcanie energii, prawa Kirchoffa
autor:
Walter Lewin
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
 |
Indukcja magnetyczna , Cyklotron, Synchrotron i ...
autor:
Walter Lewin
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
uczelnia: Massachusetts Institute of Technology
kurs: Fizyka II: Elektryczność i magnetyzm
| REKLAMA |
|
|
Nasze serwisy:
