Oscyloskop PXI o najlepszych osiągach na rynku dzięki współpracy National Instruments i Tektronix - OSCYLOSKOP - LABVIEW - NATIONAL INSTRUMENTS - PXI - TEKTRONIX
Mouser Electronics Poland   Przedstawicielstwo Handlowe Paweł Rutkowski   Amper.pl sp. z o.o.  

Energetyka, Automatyka przemysłowa, Elektrotechnika

Dodaj firmę Ogłoszenia Poleć znajomemu Dodaj artykuł Newsletter RSS
strona główna Aktualności Oscyloskop PXI o najlepszych osiągach na rynku dzięki współpracy National Instruments i Tektronix
drukuj stronę
poleć znajomemu

Oscyloskop PXI o najlepszych osiągach na rynku dzięki współpracy National Instruments i Tektronix

Oscyloskop PXI o najlepszych osiągach na rynku dzięki współpracy National Instruments i Tektronix
fot. National Instruments PXIe-5186

Oscyloskopy 3 GHz i 5 GHz z technologią Tektronix®, Enabling Technology oraz rozszerzoną wydajnością dla automatycznych aplikacji testowych.

Firma National Instruments wypuściła na rynek oscyloskop o największej, spośród dostępnych na rynku produktów PXI, szerokości pasma, powiększając tym samym grupę wydajnych instrumentów dostępnych dla platformy PXI. Stworzony razem z firmą Tektronix, światowym liderem wśród producentów oscyloskopów, NI PXIe-5186 wykorzystuje technologię "Tektronix, Enabling Technology", w celu uzyskania szerokości pasma do 5 GHz i częstotliwości próbkowania 12.5 GS/s. Firma zaprezentowała także NI PXIe-5185, który zapewnia szerokość pasma 3 GHz oraz częstotliwość próbkowania 12.5 GS/s. Oba urządzenia są częścią sprzętowo-programowej platformy NI opartej na PXI, która gwarantuje wydajność zoptymalizowaną dla aplikacji testów automatycznych.

"Jesteśmy podekscytowani naszą współpracą z Tektronix, dzięki której stworzyliśmy produkt łączący mocne strony obu firm: szybkość próbkowania produktów Tektronix oraz programowo definiowaną instrumentalizację NI" powiedział dr James Truchard, prezes i współzałożyciel National Instruments. "Nowe oscyloskopy jeszcze bardziej potwierdzają wpływ prawa Moore'a na zastosowania testowe, zapewniając lepsze parametry w kompaktowej formie, takiej jak PXI."

Układy ASIC, będące technologią firmy Tektronix oraz zawarte w nowych digitizerach, stanowią fundament dla szybkiej akwizycji sygnałów przy niskich szumach i wysokiej liniowości. Są one oparte na stabilnym procesie IBM 7HP SiGe. Przykładem wysokiej jakości sygnału dostarczanego przez Tektronix jest niespotykanie niski poziom jitter'a próbkowania. Bardzo niska wartość jitter'a powyższych oscyloskopów - 500 fs RMS - skutkuje wysoką efektywną liczbą bitów (ENOB) 5.5, przy częstotliwości 5 GHz. Technologia, będąca własnością firmy National Instruments, zapewnia wysoką przepustowość danych, zwiększając tym samym szybkość wykonywanych testów. Umożliwia tym samym precyzyjną synchronizację między modułami, stanowiąc w ten sposób idealną platformę do budowy zintegrowanych systemów testujących o dużej liczbie kanałów. Zaprojektowane dla platformy PXI Express 3U oscyloskopy, potrafią przesyłać dane z prędkością 700 MB/s, a także zsynchronizować kanały z różnych modułów z rozdzielczością 60 ps. Powyższe parametry sprawiają, że jest to idealne rozwiązanie do wykorzystania w aplikacjach takich, jak automatyczne testy produkcyjne, ATE do testowania technologii półprzewodnikowych oraz systemy pomiarowe fizyki wysokich energii.

"Wyznaczając światowy standard dla oscyloskopów, firma Tektronix dostarcza technologię, która spełnia potrzeby naszych klientów, włączając użytkowników testów automatycznych, których aplikacje testowe wymagają formatu kart modułowych" powiedział Kevin Ilcisin, szef działu technologicznego firmy Tektronix. "Klienci czerpią korzyści z naszej wiodącej na rynku technologii akwizycji sygnału, wspartej światowej klasy instrumentami kontrolnymi przez National Instruments, pioniera standardu PXI oraz światowego lidera w dziedzinie automatyzacji instrumentów."

Oscyloskopy współpracują ze środowiskiem programowania graficznego NI LabVIEW, NI LabWindows™/CVI ANSI C oraz Microsoft Visual Studio .NET. Inżynierowie mogą programować oscyloskopy wykorzystując sterownik NI-SCOPE lub nowy LabVIEW Jitter Analysis Toolkit, który oferuje bibliotekę funkcji zoptymalizowanych dla pomiarów wysokiej wydajności, niskiego jitter'a, wykresu oka oraz szumu fazowego.

Źródło: National Instruments

follow us in feedly
REKLAMA

Otrzymuj wiadomości z rynku elektrotechniki i informacje o nowościach produktowych bezpośrednio na swój adres e-mail.

Zapisz się
Administratorem danych osobowych jest Media Pakiet Sp. z o.o. z siedzibą w Białymstoku, adres: 15-617 Białystok ul. Nowosielska 50, @: biuro@elektroonline.pl. W Polityce Prywatności Administrator informuje o celu, okresie i podstawach prawnych przetwarzania danych osobowych, a także o prawach jakie przysługują osobom, których przetwarzane dane osobowe dotyczą, podmiotom którym Administrator może powierzyć do przetwarzania dane osobowe, oraz o zasadach zautomatyzowanego przetwarzania danych osobowych.
Komentarze (0)
Dodaj komentarz:  
Twój pseudonim: Zaloguj
Twój komentarz:
dodaj komentarz
REKLAMA
REKLAMA
Nasze serwisy:
elektrykapradnietyka.com
przegladelektryczny.pl
rynekelektroniki.pl
automatykairobotyka.pl
budowainfo.pl