KOMPATYBILNOŚĆ ELEKTROMAGNETYCZNA (EMC)

Metody badań i pomiarów Badanie odporności na serie szybkich elektrycznych stanów przejściowych Badanie przeznaczone jest do wykazania odporności sprzętu elektrycznego i elektronicznego narażonego na oddziaływanie różnego rodzaju zaburzeń przejściowych, takich jakie pochodzą od łączeniowych stanów przejściowych (przerwanie zasilania obciążeń indukcyjnych, odbicia styków przekaźnika itp).

1. Zakres normy

Niniejsza norma międzynarodowa dotyczy wymagań w zakresie odporności oraz metod badań sprzętu elektrycznego i elektronicznego w odniesieniu do powtarzalnych, szybkich, elektrycznych stanów przejściowych. Określono dodatkowo szeregi poziomów probierczych oraz ustalono procedury badań.
Przedmiotem niniejszej normy jest ustalenie wspólnych i odtwarzalnych podstaw do oceny działania sprzętu elektrycznego i elektronicznego, który narażony jest na powtarzalne, szybkie stany przejściowe (serie impulsów) występujące w przyłączach zasilania, sygnałowych i sterujących.
W niniejszej normie określono:
- kształt przebiegu napięcia probierczego;
- szereg poziomów probierczych;
- sprzęt pomiarowy;
- stanowisko pomiarowe;
- procedurę badania.

W niniejszej normie podano warunki wykonywania badań w "laboratoriach" i "badań w miejscu zainstalowania" wykonywanych w odniesieniu do urządzeń zainstalowanych w warunkach docelowych.
Niniejsza norma nie jest przeznaczona do precyzowania badań, mających zastosowanie do określonych urządzeń lub systemów. Podstawowym jej celem jest podanie ogólnej podstawy odniesienia wszystkim zainteresowanym komitetom do spraw wyrobów, działających w IEC. Komitety do spraw wyrobów (lub użytkownicy
1 wytwórcy urządzeń) pozostają odpowiedzialni za właściwy dobór badań i poziomu ostrości procy/, odnieś emu do ich urządzeń
Aby nie utrudniać zadania koordynacji i normalizacji, stanowczo zaleca się komitetom do spraw wyrobów lub użytkownikom i wytwórcom rozważenie (w ich przyszłej pracy lub w ramach przeglądu starych nom) zastosowania odpowiednich badań odporności określonych w niniejszej normie.

2. Normy powołane

Wymienione niżej dokumenty normalizacyjne zawierają postanowienia, które- przez określone powołania się w treści niniejszej normy - stają się również postanowieniami niniejszego arkusza części IEC 1000-4. V. momencie publikacji (niniejszej normy) podane niżej wydania norm były aktualne. Ponieważ jednak wszystkie normy podlegają nowelizacji, zachęca się strony zawierające umowy na podstawie niniejszego arkusza części IEC 1000-4 do zbadania możliwości zastosowania nowszego wydania wymienionych niżej norm. Rejestry aktualnych norm międzynarodowych prowadzą wszyscy członkowie IEC oraz ISO.

3. Postanowienia ogólne

Badanie powtarzalnymi, szybkimi stanami przejściowymi oznacza badanie z zastosowaniem serii zawierających pewną liczbę szybkich stanów przejściowych, sprzęganych z przyłączami zasilania, sterowania i sygnałowymi sprzętu elektrycznego i elektronicznego. Charakterystyczne cechy badania to: mały czas narastania, częstość powtarzania i mała energia stanów przejściowych.

4. Definicje

W niniejszym arkuszu części IEC 1000-4 stosowane są podane niżej definicje i terminy, mające zastosowanie ograniczone do serii szybkich elektrycznych stanów przejściowych.
4.1 EUT: Urządzenie badane.
4.2 przyłącze (port): Interfejs urządzenia badanego (EUT) z zewnętrznym środowiskiem elektromagnetycznym.
4.3 EFT/B: Serie szybkich elektrycznych stanów przejściowych.
4.4 sprzężenie: Wzajemne oddziaływanie obwodów związane z przekazywaniem energii z jednego obwodu do drugiego
4.5 układ sprzęgający: Układ elektryczny przeznaczony do przekazywania energii z jednego obwodu do drugiego.
4.6 układ odprzęgający: Układ elektryczny przeznaczony do ochrony innych, nie podlegających badaniu elementów, urządzeń lub systemów przed oddziaływaniem napięcia szybkich elektrycznych stanów przejściowych (EFT) przykładanego do urządzenia badanego (EUT).
4.7 klamra sprzęgająca: Element o określonych wymiarach i charakterystykach do asymetrycznego sprzęgania sygnału zaburzenia z badanym obwodem, bez żadnego galwanicznego połączenia z tym obwodem.
4.8 ziemia odniesienia (GRP): Płaska powierzchnia przewodząca, której potencjał jest przyjmowany
jako potencjał odniesienia. [IEV 161-04-36]
4.9 kompatybilność elektromagnetyczna (EMC): Zdolność urządzenia lub systemu do zadowalającego działania w swoim środowisku elektromagnetycznym bez wytwarzania zaburzeń elektromagnetycznych, które są niedopuszczalne dla jakiegokolwiek elementu tego środowiska. [IEV 161-01-07]
4.10 odporność (na zaburzenie): Właściwość elementu, urządzenia lub systemu charakteryzująca zdolność do działania bez obniżenia jakości w obecności zaburzenia elektromagnetycznego. [!EV 161-01 -20]
4.11 obniżenie jakości (działania): Pogorszenie użytkowych parametrów elementu, urza.dzenia lub systemu w stosunku do parametrów zamierzonych. [IEV 161-01-19]
UWAGA - Termin „obniżenie jakości" może odnosić się do pogorszenia przemijającego lub trwałego uszkodzenia.
4.12 stan przejściowy: Zjawisko lub wielkość, która zmienia się między dwoma kolejnymi stanami ustalonymi podczas krótkiego przedziału czasu w porównaniu z rozważaną skalą czasu. [IEV 161-02-01]
4.13 czas narastania: Przedział czasu między momentami, w których wartość chwilowa impulsu osiąga najpierw 10 % wartości, a następnie 90 % wartości. [IEV 161-02-05, zmieniona]
4.14 seria: Ciąg ograniczonej liczby oddzielnych impulsów lub drgań o ograniczonym czasie trwania. [IEV 161-02-07)